Failure Analysis: High Technology Devices
De (autor): Daniel J. D. Sullivan
Sullivan Carleton, Daniel J. D. Eric J.: - Daniel J. D. Sullivan, EAG Laboratories, USA. Eric J. Carleton, Arrhenius Inc., USA.
-10%
transport gratuit
PRP: 635.42 Lei
Acesta este Pretul Recomandat de Producator. Pretul de vanzare al produsului este afisat mai jos.
571.88Lei
571.88Lei
635.42 LeiPrimesti 571 puncte
Primesti puncte de fidelitate dupa fiecare comanda! 100 puncte de fidelitate reprezinta 1 leu. Foloseste-le la viitoarele achizitii!
Livrare in 2-4 saptamani
X
Pentru a putea comanda rapid este nevoie sa introduceti numarul dvs de telefon in formatul 0xxxxxxxxx (10 cifre).Un operator Libris.ro va suna si va cere telefonic restul datelor necesare.
Descrierea produsului
Sullivan Carleton, Daniel J. D. Eric J.: - Daniel J. D. Sullivan, EAG Laboratories, USA. Eric J. Carleton, Arrhenius Inc., USA.
Detaliile produsului
De pe acelasi raft
Parerea ta e inspiratie pentru comunitatea Libris!